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功率半导体器件 封装 测试和可靠性 功率芯片封装测试标准方法原理 环境可靠性测试 电应力测试 功率半导体领域研究人员参考书籍
功率半导体器件 封装 测试和可靠性 功率芯片封装测试标准方法原理 环境可靠性测试 电应力测试 功率半导体领域研究人员参考书籍
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产地:北京
店铺:化学工业出版社旗舰店
测试
功率
封装
半导体
可靠性
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